PDF查询| 产品变化通告 ： | Internal Chip Change 04/May/2007 |
| 标准包装 ： | 1 |
| 系列 ： | - |
| 检测距离 ： | 0.028" (0.7mm) |
| 检测方法 ： | 反射 |
| 电压 - 集电极发射极击穿（最大） ： | 35V |
| 电流 - 集电极 (Ic)（最大） ： | 20mA |
| 电流 - DC 正向(If) ： | 50mA |
| 输出类型 ： | 光电晶体管 |
| 响应时间 ： | 20µs, 20µs |
| 安装类型 ： | 表面贴装 |
| 封装/外壳 ： | 4-SMD |
| 包装 ： | 剪切带 (CT) |
| 工作温度 ： | -25°C ~ 85°C |
